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影響測(cè)厚儀測(cè)量值的因素與解決方法
[ 2011/9/8 15:19:46 ] [轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明來源:就是要儀器網(wǎng)]

 影響測(cè)厚儀測(cè)量值的因素與解決方法

     使用測(cè)厚儀與使用其他儀器一樣,既要掌握儀器性能,也需了解測(cè)試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測(cè)厚儀都是基于被測(cè)基體的電、磁特性及與探頭的距離來測(cè)量覆層厚度的,所以,被測(cè)基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測(cè)量值的可靠性,下面就這方面的問題作一下介紹。

1. 邊界間距

如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度,只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn),才能測(cè)量。(注:最新的產(chǎn)品有透過覆層校準(zhǔn)的獨(dú)特功能可達(dá)310%的精度)             

2. 基體表面曲率

在一個(gè)平直的對(duì)比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值,然后在測(cè)量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?;騾⒄障聴l。             

3. 基體金屬最小厚度

基體金屬必須有一個(gè)給定的最小厚度,使探頭的電磁場(chǎng)能完全包容在基體金屬中,最小厚度與測(cè)量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān),在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測(cè)量而不用對(duì)測(cè)量值修正。對(duì)于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對(duì)比來確定與額定值的差值。并且在測(cè)量中考慮這點(diǎn)而對(duì)測(cè)量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵,便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測(cè)銅箔厚度的測(cè)厚儀,如前所述。

4. 表面粗糙度和表面清潔度

在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見,不論是基體或是覆層,越粗糙,測(cè)量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對(duì)于表面雜質(zhì),則應(yīng)予去除。有的儀表上下限,以剔除那些飛點(diǎn)。             

5. 探頭測(cè)量板的作用力

探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測(cè)量值下降?;町a(chǎn)生大的波動(dòng),必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導(dǎo)電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞4拧?nbsp;            

6. 外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁

應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測(cè)量。殘存的剩磁,根據(jù)檢測(cè)器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差,但是如結(jié)構(gòu)鋼,深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。            

 7. 覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份

覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時(shí),會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)試樣。也可向有關(guān)計(jì)量測(cè)試部門購(gòu)得 

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