遵循ASTM B568,DIN 50 987和ISO 3497等國家和國際標(biāo)準(zhǔn)。HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的精確處理和使用了最新的軟件和硬件技術(shù),FISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。
獨(dú)一無二的WinFTM®(版本3(V.3)或版本6(V.6))軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析(使用WinFTM® V.6軟件)
典型的應(yīng)用范圍如下:
單一鍍層:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
最多24種鍍層(使用WinFTM® V.6軟件)。
分析多達(dá)4種(或24種-使用V.6軟件)元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度