UV（紫外成像儀檢測(cè)）和IR（紅外熱像儀檢測(cè)）技術(shù)的比較。UV檢測(cè)和紅外成像是一種互補(bǔ)性而非沖突性技術(shù)。電力設(shè)施一個(gè)完整的檢測(cè)應(yīng)該包括紫外成像、紅外成像和可見光檢測(cè)。電暈是一種發(fā)光的表面局部放電，由于空氣局部高強(qiáng)度電場(chǎng)而產(chǎn)生電離。該過(guò)程引起微小的熱量，通常紅外檢測(cè)不能發(fā)現(xiàn)。紅外檢測(cè)通常是在高電阻處產(chǎn)生熱點(diǎn)。紫外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紅外成像儀不能看到，而紅外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紫外成像儀不能看到。
項(xiàng)目 | 紫外UV檢測(cè) | 紅外IR檢測(cè) |
光譜范圍 | 0.250-0.280微米，用于白天電暈的檢測(cè) | 8-14微米 |
儀器敏感范圍 | 紫外輻射 | 熱產(chǎn)生的紅外輻射 |
產(chǎn)生原因 | 絕緣子、套管、導(dǎo)線、污染產(chǎn)生電暈和電?。粚?dǎo)線損壞；分離器松弛；部件的尖部；安裝不當(dāng)?shù)膹?fù)合絕緣子；缺少弧型喇叭等 | 有電流時(shí)的高電阻缺陷。連接不良；帶電絕緣子內(nèi)部缺陷，電弧。 |
電力因素 | 與電壓有關(guān) | 與電流有關(guān) |
檢測(cè)時(shí)加載 | 需要 | 需要 |
強(qiáng)陽(yáng)光的干擾 | 無(wú)，Daycor 成像儀不受太陽(yáng)光的影響。儀器完全為“太陽(yáng)盲區(qū)”。 | 有 |
天氣狀況 | 高濕度，低氣壓和高溫促進(jìn)電暈放電 | 高溫天氣干擾檢測(cè)，雨天不能檢測(cè) |
缺陷的檢測(cè)導(dǎo)致： | ||
音頻噪音 | 有 | 無(wú) |
TV和無(wú)線電干擾 | 可以 | 無(wú) |
儀器特性： | ||
成像通道 | 雙通道：可見光+UV，可合成一個(gè)視頻圖像 | 單通道或者可見光+紅外通道 |
FOV | 比UV成像儀寬 | |
輸出 | 視頻剪輯 | 靜態(tài) |
檢測(cè)模式 | 便攜式，固定式，機(jī)載式 | 便攜式，固定式，機(jī)載式 |
檢測(cè)階段 | 一般可檢測(cè)出缺陷劣化前期 | 往往檢測(cè)缺陷后期的現(xiàn)象 |
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