產(chǎn)品描述:
ARL QUANTX熒光能譜儀
應用領域:
● 應對RoHS & WEEE 指令分析
● 各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量
● 氣溶膠顆粒濾膜, 刑偵以及痕量分析
● 土壤、催化劑、礦石、原材料成份分析等
● 營養(yǎng)添加劑 ,各種油品成份分析等
● 磁性磁性介質和半導體,各種合金、貴金屬成份
主要特點
● 分析元素范圍 Na-U
● 分析元素的濃度范圍 ppm—100%
● 整機穩(wěn)定性連續(xù)8小時測RSD<0.25%
● 高級FP無標樣分析軟件,無標樣條件下誤差小于1%。減少對標樣的依賴性
● ROHS/WEEE檢測時間100-120秒
● 樣品類型: 固體,液體,粉末,濾渣,鍍層及其他.
技術參數(shù)
探測器配置
●高靈敏電制冷Si(Li)探測器技術,儀器免維護和零費用運行,壽命達15年以上(可選用:液氮Si(Li) 探
測器)
●極高的分辨率: 電制冷Si(Li) 探測器 晶體面積15mm2 分辨率<155ev
(可選用: 液 氮Si(Li) 探測器 晶體面積30mm2 分辨率<149ev)
●超大Si(Li) 晶體,極高的痕量分析的靈敏度,打破lng的檢測限壁壘X-光管
●50KV,50瓦,超強流端窗X-射線管,具有超強束流。高穩(wěn)定,壽命可達15年以上
●多濾光片技術,8位濾光片可根據(jù)分析對象元素,有效探測.可清晰分辨相鄰 元素
數(shù)據(jù)采集
● 全數(shù)字脈沖處理器技術,死時間達60%,以及優(yōu)異的峰背比,極大的提高分析速度及精度
● 采用多道(32位4096道)脈沖分析器,極大的提高分析精度及其速度
其他
● 超大樣品室,可容納305mm×389mm×66mm的樣品(增高室可選215mm或371mm)
● 全自動校準,自動監(jiān)測,自動報警系統(tǒng),完全計算機控制
● 鍍層和薄膜測量技術, 具有無標樣分析測厚技術
● 方便快捷的運輸和移動
● 高性能,操作簡便WinTrace軟件
儀器介紹
ARL QUANT’X 熒光能譜儀(EDXRF) 應對ROHS/WEEE檢測綠色采購最佳幫手。
ARL QUANT’X 能量色散X-熒光光譜儀(EDXRF)是最新的元素分析儀,是為實驗室 和工廠制造環(huán)境下滿足絕大多數(shù)分析設計的,其強大的功能和靈活性對于許多元素分析應用是不可缺少的。有了ARL QUANT’X,就不必在為元素的范圍、分析性能、樣品類型、分析便捷或可靠性擔憂了。
技術參數(shù):
ARL QUANTX熒光能譜儀
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