WK3260B磁性元件分析儀
頻率范圍 (20Hz - 3MHz)
0.1% 基本量測精確度
DC Bias(直流偏壓) 最高可到125A(Option)
內(nèi)建1Amp DC Bias
多頻率自動測試模式
多點DC Bias掃頻功能
可直接畫出加上Bias時各參數(shù)之曲線圖.具掃頻功能
可接Mesco view, Factory view軟件
涵蓋各式測量參數(shù) - 包含 Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(質(zhì)量因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 及 圈數(shù)比
可透過IEEE488連線控制
量測參數(shù) | L,Z,Rdc,C,Q,D,Rac,Angle |
頻率范圍 | 20 Hz to 3 MHz Option |
頻率波段 | >1000 |
量測電壓/電流 | 1 mV to 10 V |
內(nèi)建式直流偏壓電流 | 1 mA to 1 A |
絕緣測試(選購) | 100 V, 200 V, 500 V |
量測速度 | 4 off (25/sec max) |
量測范圍 | R 0.01 mOhm to > 2 GOhms |
基本量測速度 | L/Rac/Z/Cp ±0.25% |