美國泰克Tektronix 數(shù)字熒光示波器TDS5054主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
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功能描述 | |
垂直系統(tǒng) | TDS5054 |
輸入通道 | 4 |
模擬帶寬(-3dB)5mV/格-1V/格 | 500MHz |
計(jì)算的上升時(shí)間5mV/格(典型) | 800ps |
硬件帶寬限制 | 150MHz或20MHz |
輸入耦合 | AC,DC,GND |
輸入阻抗 | 1MΩ±1%或50Ω±1% |
輸入靈敏度,1MΩ | 1mV/格到10V/格 |
輸入靈敏度,50Ω | 1mV/格到1V/格 |
垂直分辨率 | 8位(>11位,取平均值) |
最大輸入電壓1MΩ | 在超過200kHz時(shí),±150V CAT I在20dB/10時(shí)減至9VRMS |
最大輸入電壓50Ω | 5VRMS,峰值小于±30V |
偏置范圍,1MΩ | 1mV/格-99.5mV/格±1V,100mV/格-1V/格±10V,1.01V/格-10V/格±100V |
偏置范圍,50Ω | 1mV/格-99.5mV/格±1V,100mV/格-1V/格±10V,1.01V/格-10V/格±100V |
在相等的垂直刻度時(shí)任意兩條通道的通道間隔 | 在≤100MHz時(shí)≥100:1,>100MHz時(shí)≥30:1,最高為額定帶寬 |
時(shí)基系統(tǒng) | |
時(shí)基范圍 | 200ps/格到40s/格 |
時(shí)基延遲時(shí)間范圍 | 16ns到250s |
通道間抗扭曲范圍 | ±25ns |
時(shí)間增量測(cè)量精度 | ±(0.30采樣間隔)+(15ppm*讀數(shù)) |
觸發(fā)攔動(dòng)(RMS) | |
長期取樣速率和延遲時(shí)間精度 | 在≥1ms間隔上±15ppm |
實(shí)時(shí)取樣速率:1通道(? | 5GS/s |
2通道(最大) | 2.5GS/s |
3-4通道(最大) | 1.25GS/s |
等效取樣速率(最大) | 250GS/s |
在最高實(shí)時(shí)分辨率(1通 | |
時(shí)間分辨率(一個(gè)快照) | 200ps(5GS/s) |
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存最大時(shí)長 | 80μs |
可選1M內(nèi)存最大時(shí)長 | 400μs |
可選2M內(nèi)存最大時(shí)長 | 1.6ms |
采集模式 | |
FastAcq采集 | FastAcq優(yōu)化了儀器分析動(dòng)態(tài)信號(hào)和捕獲罕見事件的能力 |
最大FasAcq波形捕獲速 | 100,000vfms/s |
最小峰值檢測(cè)脈寬 | <1ns |
平均 | 在平均中包括2-10,000個(gè)波形 |
Hi-Res | 實(shí)時(shí)矩形波串平均降低了隨機(jī)噪聲,提高了分辨率 |
其他技術(shù)指表在其他里 | |
持有證書 | |
CE | |
其它 | |
靈敏度 內(nèi)部DC耦合:0.35格DC到50MHz,在500MHz時(shí)提高到1格 外部(輔助輸入):400mV從DC到50MHz,在100MHz時(shí)提高到750mV 主要觸發(fā)模式:自動(dòng)、正常和單一 觸發(fā)序列:主要延遲,按時(shí)間計(jì)算的延遲,按事件計(jì)算的延遲。所有序列可內(nèi)部以包括觸發(fā)事件后的單獨(dú)水平延遲,以便及時(shí)定位采集窗口 內(nèi)部:從屏幕中心±10格 外部(輔助輸入):±8V 線路:固定在0V 觸發(fā)保持范圍:最小250ns,最大12s |
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