主要特點及優(yōu)點 |
直觀的、點擊式Windows操作環(huán)境
獨特的遠端前置放大器,將SMU的分辨率擴展至0.1fA
用于高級半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡
內(nèi)置PC提供快速的測試設(shè)置、強大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測試結(jié)果的大容量存儲
獨特的瀏覽器風格的軟件界面,根據(jù)器件的類型來安排測試,可以執(zhí)行多項測試并提供測試序列與循環(huán)控制功能
內(nèi)置了Stress/Measure,循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能,通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試,包括5個JEDEC規(guī)范的樣品測試
支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備
硬件由Keithley交互式測試環(huán)境(KITE)來控制,用戶測試模塊功能,可用于外接儀表控制與測試平臺集成,是KITE功能的擴充
包括驅(qū)動軟件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自動和手動探針臺
支持先進的半導體模型參數(shù)提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso |
容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統(tǒng)用于實驗室級的器件直流參數(shù)測試、實時繪圖與分析,具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了最先進的系統(tǒng)集成能力,包括完整的嵌入式PC機,WindowsNT操作系統(tǒng)與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數(shù)據(jù)的過程,這樣用戶可以更快地開始分析測試結(jié)果。 |
應(yīng)用 |
半導體器件:
片上參數(shù)測試
晶圓級可靠性
封裝器件的特性分析
使用Model4200-SCS控制外部LCR表進行C-V、I-V特性分析
高K柵電荷俘獲
易受自加熱效應(yīng)影響的器件和材料的等溫測試
電荷泵方法分析MOSFET器件的界面態(tài)密度
電阻式或電容式MEMS驅(qū)動特性分析
光電器件:
半導體激光二極管DC/CW特性分析
收發(fā)模塊DC/CW特性分析
PIN和APD特性分析
科技開發(fā):
碳納米管特性分析
材料研究
電化學 |