產(chǎn)品描述:
操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)
MODEL:5500
本機(jī)器可模擬Notebook、手機(jī)、PDA各種動(dòng)作之操作,以了解產(chǎn)品在多次使用后,各種零件的耐久狀況。由計(jì)算機(jī)設(shè)定測(cè)試動(dòng)作,可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存,并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作,一臺(tái)計(jì)算機(jī)同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器。
Notebook測(cè)試規(guī)格:
磁盤(pán)片插入、退出試驗(yàn)。
光驅(qū)插入、退出試驗(yàn)。
PCMCIA插入、退出試驗(yàn)。
電池插入、退出試驗(yàn)。
各種接頭插入、退出試驗(yàn)。(PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等)
桌面放落試驗(yàn) 。
手機(jī)測(cè)試規(guī)格 :
天線上、下抽取試驗(yàn)。
天線彎曲試驗(yàn)。
電池插入、拔出試驗(yàn)。
連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。
ON、OFF開(kāi)關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。
上蓋打開(kāi)、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。
短距離落下壽命試驗(yàn)。
SIM卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。
PDA測(cè)試規(guī)格 :
CF卡插拔耐久試驗(yàn)。
Battery蓋插、拔耐久試驗(yàn)。
DC插頭耐久試驗(yàn)。
連接器插、拔耐久試驗(yàn)。
筆插拔耐久試驗(yàn)。
觸控屏幕摩擦耐久試驗(yàn)。
ON、OFF開(kāi)關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。
技術(shù)參數(shù):