產(chǎn)品描述:
操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)
MODEL:5500
本機(jī)器可模擬Notebook、手機(jī)、PDA各種動作之操作,以了解產(chǎn)品在多次使用后,各種零件的耐久狀況。由計算機(jī)設(shè)定測試動作,可隨時更改或儲存,并可同時執(zhí)行數(shù)個測試動作,一臺計算機(jī)同時控制數(shù)臺機(jī)器。
Notebook測試規(guī)格:
磁盤片插入、退出試驗(yàn)。
光驅(qū)插入、退出試驗(yàn)。
PCMCIA插入、退出試驗(yàn)。
電池插入、退出試驗(yàn)。
各種接頭插入、退出試驗(yàn)。(PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等)
桌面放落試驗(yàn) 。
手機(jī)測試規(guī)格 :
天線上、下抽取試驗(yàn)。
天線彎曲試驗(yàn)。
電池插入、拔出試驗(yàn)。
連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。
ON、OFF開關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。
上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。
短距離落下壽命試驗(yàn)。
SIM卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。
PDA測試規(guī)格 :
CF卡插拔耐久試驗(yàn)。
Battery蓋插、拔耐久試驗(yàn)。
DC插頭耐久試驗(yàn)。
連接器插、拔耐久試驗(yàn)。
筆插拔耐久試驗(yàn)。
觸控屏幕摩擦耐久試驗(yàn)。
ON、OFF開關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。
技術(shù)參數(shù):