IM7585阻抗分析儀IM7583

HIOKI這次將發(fā)售阻抗分析儀IM7583和IM7585。 在信息化的現(xiàn)在社會(huì)中，智能手機(jī)等移動(dòng)設(shè)備通過LTE、Wi-Fi、GPS等，向高頻化發(fā)展，而且該帶寬達(dá)到了數(shù)GHz。隨之，移動(dòng)設(shè)備中所使用的高頻感應(yīng)器和鐵氧體磁珠等電子元件也向高頻化發(fā)展。這些電子元件從按照數(shù)百M(fèi)Hz到1GHz的高頻來進(jìn)行出廠檢查，所以對(duì)于高頻測量儀器的需求也日益增加。 這次將發(fā)售的2種機(jī)型，可以測量超過去年發(fā)售的IM7580（最高300MHz的高頻測量）進(jìn)行更高的頻率測量。IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz，可以滿足高頻化的各種電子元件產(chǎn)品。 而且，IM7583、IM7585兩種機(jī)型通過最短0.5ms（0.0005秒）的高速測量，能夠快速的檢查大量電子元件，從而提高電子元件廠商的生產(chǎn)效率。

主要用途

電子元件廠商的電子元件的出貨檢查 電子儀器廠家的電子元件的入庫檢查和特性評(píng)估

產(chǎn)品特點(diǎn)

IM7583最高600MHz、IM7585最高1.3GHz的高頻測量 IM7583的測量頻率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz。這大大的高于去年發(fā)售的IM7580的測量頻率（1MHz~300MHz）。 單一頻率測量的LCR測試儀的模式的話，可用于判斷出貨檢查的合格與否，頻率變化同時(shí)進(jìn)行測量的阻抗分析儀的模式的話 ，產(chǎn)品開發(fā)的特性評(píng)估和其他領(lǐng)域中。   最快0.5ms的高速測量和高穩(wěn)定性的測量，有助于提高生產(chǎn)效率 最快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。這樣，對(duì)于需要快速檢查大量電子元件的電子元件廠商來說可以大幅提高生產(chǎn)效率。 而且，IM7585的反復(fù)測量精度是0.07%（1GHz時(shí)的代表值），因此實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定測量，提高生產(chǎn)的成品率，從而提高生產(chǎn)效率。   主機(jī)尺寸小巧化，有助于降低生產(chǎn)成本 在電子元件廠商的生產(chǎn)線中，各種設(shè)備安裝在機(jī)架中組成檢查系統(tǒng)，并進(jìn)行自動(dòng)檢查。因此，和去年發(fā)售的IM7580相同通過將將主機(jī)大小小型化，縮小檢查系統(tǒng)的體積，并通過多臺(tái)組合能夠縮短檢查時(shí)間，并降低生產(chǎn)成本。   各種各樣的判斷功能，判斷合格與否 單一的頻率測量的LCR測試儀的模式的話，具備判斷電子元件的合格與否的比較器功能以及將電子元件排序的BIN功能。比較其功能克設(shè)置上下限值，并以此為判斷標(biāo)準(zhǔn)來判斷是否合格。相對(duì)于比較器功能的按照判斷標(biāo)準(zhǔn)判斷是否合格，BIN功能則能設(shè)置最多10種判斷標(biāo)準(zhǔn)，并進(jìn)行排名。 在多種頻率下測量的分析儀的模式的話，包括從電子元件的頻率特性中可判斷合格與否的區(qū)間判斷、峰值判斷。區(qū)間判斷是為了確認(rèn)測量值是否進(jìn)入任意設(shè)置的判斷區(qū)域內(nèi)的功能。峰值判斷是判斷共振點(diǎn)的功能。 另外，還全新搭載了任意設(shè)置多種頻率，并按照這個(gè)設(shè)置值判斷合格與否的目標(biāo)判斷功能。

基本參數(shù)

基本精度 Z：0.65%rdg.θ：0.38（代表值） 測量時(shí)間 最短0.5ms（模擬測量時(shí)間） 測量范圍 100mΩ～5kΩ 測量頻率 IM7583：1MHz～600MHz　　IM7585：1MHz～1.3GHz 測量信號(hào)電平 -40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）

HIOKI（日置電機(jī)株式會(huì)社：長野県上田市、代表取締役社長：町田正信）はこのたびインピーダンスアナライザIM7583とIM7585を発売いたします。
　情報(bào)化社會(huì)が進(jìn)む現(xiàn)在、スマートフォンなどのモバイル機(jī)器はLTE、Wi-Fi、GPSなどに対応することで、高周波化が進(jìn)み、その帯域は數(shù)GHz（ギガヘルツ）にも達(dá)しています。これに伴い、モバイル機(jī)器に使用される高周波インダクタやフェライトビーズといった電子部品も高周波化が進(jìn)んでいます。これらの電子部品は數(shù)百M(fèi)Hz（メガヘルツ）から1GHｚといった高い周波數(shù)で出荷検査をしているため、高周波の測定器のニーズが高まっていました。
　このたび発売する2機(jī)種は、昨年発売したIM7580（最高300MHｚの高周波測定が可能）を上回る高周波測定が可能です。IM7583の測定周波數(shù)は1MHｚ～600MHzまで、IM7585は1MHｚ～1.3GHｚまでとなっており、高周波化が進(jìn)む電子部品に対応した製品となっています。
　また、IM7583、IM7585の両機(jī)種は最短0.5ms（0.0005秒）の高速測定によって大量の電子部品を速く検査することができ、電子部品メーカーは生産性を向上させることができます。

■主な用途
　電子部品メーカーにおける電子部品の出荷検査
　電子機(jī)器メーカーにおける電子部品の受け入れ検査や特性評(píng)価

■製品の特長
1.IM7583は最高600MHｚ、IM7585は最高1.3GHｚまでの高周波測定が可能に
　IM7583の測定周波數(shù)は1MHｚから600MHｚで、IM7585は1MHzから1.3GHｚです。これは、昨年発売したIM7580の測定周波數(shù)（1MHｚ～300MHｚ）を大きく上回ります。
　単一周波數(shù)で測定するLCRメータのモードでは出荷検査の良否判定、周波數(shù)を変化させながら測定するアナライザのモードでは製品開発での特性評(píng)価と様々な分野で使用することができます。
2.最短0.5msの高速測定かつ高安定の測定で生産性の向上に貢獻(xiàn)
　最短0.5ms（0.0005秒）の高速測定が可能です。これにより、大量の電子部品を速く検査したい電子部品メーカーにとって、生産性が大きく向上します。
　また、測定の繰り返し精度もIM7585で0.07% （1GHｚの場合の代表値）となっているので、安定した測定が可能になり、生産の歩留まりが改善され、生産性が向上します。
3.本體サイズの小型化により、生産コストの低減に貢獻(xiàn)
　電子部品メーカーの生産ラインにおいては、各種機(jī)器をラックに収めて検査システムを作り、自動(dòng)検査を行なっています。そのため、昨年発売したIM7580と同様に本體サイズを小型にすることで、検査システムを小型にしたり、複數(shù)臺(tái)の搭載によって検査時(shí)間を短縮したりすることが可能となり、生産コストを低減することができます。
4.さまざまな判定機(jī)能による良否判定
　単一の周波數(shù)で測定するLCRメータのモードでは、電子部品の良否判定をするコンパレータ機(jī)能、電子部品を選別するBIN機(jī)能があります。コンパレータ機(jī)能は上下限値を設(shè)定し、この判定基準(zhǔn)をもとに良否判定をします。コンパレータ機(jī)能では一つの判定基準(zhǔn)で良否を判定するのに対して、BIN機(jī)能は最大10の判定基準(zhǔn)を設(shè)け、ランク分けします。
　複數(shù)周波數(shù)で測定するアナライザのモードでは、電子部品の周波數(shù)特性から良否判定をすることができるエリア判定、ピーク判定があります。エリア判定は、任意で設(shè)定した判定エリアに測定値が入っているかを確認(rèn)するための機(jī)能です。ピーク判定は、共振點(diǎn)を判定する機(jī)能です。
　さらに、複數(shù)の周波數(shù)を任意で設(shè)定し、この設(shè)定値に基づき良否判定をするスポット判定機(jī)能を新たに搭載しました。

■基本仕様
　基本確度　　Z：0.65%rdg.θ：0.38(代表値)
　測定時(shí)間　　最短0.5ms（アナログ計(jì)測時(shí)間）
　測定範(fàn)囲　　100mΩ～5kΩ
　測定周波數(shù)　　IM7583：1MHz～600MHz　　IM7585：1MHz～1.3GHz
　測定信號(hào)レベル　　-40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）

■年間販売目標(biāo)臺(tái)數(shù)
　100臺(tái)

■価格
　インピーダンスアナライザIM7583：1,700,000円（稅抜）
　インピーダンスアナライザIM7585：2,300,000円（稅抜）
　

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