薄膜測(cè)厚儀特點(diǎn)
本測(cè)厚議適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。 | |
功能描述 | |
量程 | 0-1mm |
分度值 | 0.001mm |
上測(cè)頭曲率半徑 | 15-50mm |
測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我 | 0.1-0.5N |
測(cè)量精度 | 100vm以內(nèi)<1vm |
錫晶 | 薄膜測(cè)厚儀 | CH-1-S型更多相關(guān)產(chǎn)品>>>>> |