德國(guó)FISCHER公司X-RAY熒光測(cè)厚儀
HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過(guò)17年的經(jīng)驗(yàn)。通過(guò)對(duì)所有相關(guān)過(guò)程包括X射線熒光測(cè)量法的精確處理和使用了最新的軟件和硬件技術(shù),F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。
獨(dú)一無(wú)二的WinFTM?(版本3(V.3)或版本6(V.6))軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析(使用WinFTM? V.6軟件)
典型的應(yīng)用范圍如下:
l 單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
l 二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
l 三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
l 雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
l 雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
l 最多24種鍍層(使用WinFTM? V.6軟件)。
l 分析多達(dá)4種(或24種-使用V.6軟件)元素。
l 分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。
FISCHERSCOPE? XUL?
FISCHERSCOPE? XUL?設(shè)計(jì)為X-射線管和探測(cè)器系統(tǒng)位于測(cè)量臺(tái)下部。因此測(cè)量方向從下往上。這也就提供了一個(gè)重要的優(yōu)點(diǎn),尤其對(duì)于測(cè)量各種不同幾何外形的小工件,例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數(shù)情況下,被測(cè)試工件的表面可直接放置于測(cè)量臺(tái)上,這就避免了在從上往下測(cè)量系統(tǒng)中需要的測(cè)量距離調(diào)整。測(cè)試點(diǎn)會(huì)自動(dòng)地調(diào)整在正確的距離上。這就加快了測(cè)量的過(guò)程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測(cè)量誤差。- FISCHE是唯一一家實(shí)現(xiàn)了這種設(shè)計(jì)的X-射線熒光鍍層厚度測(cè)試儀器的制造廠商。
與WinFTM? V.6 軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay配合,XUL? 作為FISCHERSCOPE? GOLDLINE ASSAY的一部分,可以完美地適應(yīng)于快速,非破壞性和精確的測(cè)量珠寶及貴金屬中金的成分。