聲學掃描顯微鏡是一種非破壞性的檢測組件的完整性,內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料的內(nèi)部情況的儀器,作為無損檢測分析中的一種,它可以實現(xiàn)在不破壞物料電氣能和保持結(jié)構(gòu)完整性的前提下對物料進行檢測。被廣泛的應用在物料檢測(IQC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。
其可以檢測:1.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu),雜質(zhì)顆粒; 2.內(nèi)部裂紋; 3.分層缺陷; 4.空洞、氣泡、空隙等等
在聲學顯微成像(AMI: Acoustic Micro Imaging)技術(shù)應用于內(nèi)部品質(zhì)無損檢測與分析方面,Sonoscan一直是該行業(yè)的權(quán)威之一。Sonoscan系統(tǒng)被視為精確基準,通過我們的SonoLab™ 部門,您可以向我們的聲學應用工程師進行咨詢,獲取專業(yè)意見和指導。Sonoscan致力于通過教育項目、客戶應用程序評估與新系統(tǒng)開發(fā)來實現(xiàn)AMI技術(shù)的持續(xù)改進。
對AMI技術(shù)的專業(yè)研究是Sonoscan工作的核心。我們努力提供非凡的數(shù)據(jù)精確性、出眾的圖像質(zhì)量和世界領(lǐng)先的技術(shù)。我們在AMI技術(shù)方面還擁有多項美國和外國專利??傊?,Sonoscan是您最值得信任的伙伴,我們可以為您節(jié)省成本并提高效率。
Sonoscan C-SAM D9500是一種新型AMI標準儀器,可以提供出眾的精確度和穩(wěn)定性,適合破損分析、工藝開發(fā)以及材料分析與表征。
超聲波探頭頻率:5M到400M
超聲波掃描模式:A-Scan(某點掃描)、B-Scan(塊掃描)、C-Scan(層掃描)、Multi-Scan(多層掃描)、Q-BAM(虛擬橫截面)、T-Scan (穿透式掃描)、3-V(3維圖像)、Tray-Scan(盤掃描)
最大掃描范圍:12.9X12.4英寸
最大分辨率:8192X8192
選擇的聲波寬度:0.25納秒到1微秒
Z軸分辨率:80納米