高頻段阻抗測(cè)試儀
阻抗測(cè)試儀就是用來(lái)測(cè)試系統(tǒng)阻抗特性的儀器,通過阻抗測(cè)試儀可以分析系統(tǒng)的L、C、R分量。例如一個(gè)普通電阻不僅具有電阻分量,其還具有電感或者電容分量,通過阻抗測(cè)試儀可以對(duì)其進(jìn)行測(cè)量。不同頻段的阻抗測(cè)試儀價(jià)格不一樣,有單獨(dú)頻段的阻抗測(cè)試儀和聯(lián)連續(xù)頻段的阻抗測(cè)試儀。今天介紹一款高頻段阻抗測(cè)試儀
300MHz世界最快、通過高速測(cè)量和高反復(fù)精度縮短工時(shí)、加速生產(chǎn)?xml:namespace>
· 測(cè)量頻率1MHz~300MHz · 測(cè)量時(shí)間:最快0.5ms · 基本精度±0.72%rdg. · 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 · 豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定) · 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量 |
主機(jī)不帶測(cè)試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580專用的測(cè)試治具。 |
基本參數(shù) |
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