美國(guó)安捷倫Agilent LCR測(cè)試儀4263B
詳細(xì)介紹 | |
基本精度為0.1% 美國(guó)安捷倫Agilent LCR測(cè)試儀4263B技術(shù)參數(shù) | |
功能描述 | |
測(cè)量參數(shù) | |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR |
選件001 | 增加DCR(直流電阻),N(匝數(shù)比)和M(互感)測(cè)量 |
測(cè)量電路形式 | 串聯(lián)和并聯(lián) |
數(shù)學(xué)功能 | 偏差和百分偏差 |
測(cè)試電纜長(zhǎng)度 | 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz) |
測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù) | |
測(cè)試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz |
選件002 | 增加20kHz測(cè)試頻率 |
頻率精度 | ±0.01%(頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) |
輸出阻抗 | 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程) |
交流測(cè)試信號(hào)電平 | 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 |
精度 | ±(10%+10mV) |
內(nèi)部直流偏置 | |
電平 | 1.5和2V;精度:±(5%+2mV) |
外部直流偏置 | 0~+2.5V |
測(cè)量范圍: | |
|Z|,R,X: | |
測(cè)量范圍 | 1mΩ-100MΩ |
|Y|,G,B: | |
測(cè)量范圍 | 10nS-1000S |
C: | |
測(cè)量范圍 | 1pF-1F |
L: | |
測(cè)量范圍 | 10nH-100kH |
D: | |
測(cè)量范圍 | 0.0001-9.9999 |
測(cè)量精度: | |
測(cè)量范圍 | ±0.1%(基本精度)(適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) |
模式 | 時(shí)間(典型值) |
短 | 25ms |
中等 | 65ms |
長(zhǎng) | 500ms |
測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器 | 電壓和電流 |
顯示數(shù)字 | 3,4或5位(可選擇) |
開(kāi)路/短路誤差為0 | 消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 |
負(fù)載 | 利用一個(gè)已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量的精度 |
比較功能 | 對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低(HEGH/IN/LOW)比較結(jié)果 |
存儲(chǔ)/調(diào)用 | 可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置 |
連續(xù)存儲(chǔ)功能 | 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置(直流偏置接通/切斷除外)將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來(lái)(在23°±5℃下≦72小時(shí)) |
GPIB接口 | 所有控制設(shè)置,被測(cè)值和比較器信息 |
持有證書(shū) | |
CE |
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