SE800UV/VIS光譜橢偏儀

SE800UV/VIS光譜橢偏儀光譜范圍：350 nm - 850 nm 
可選: 280 nm - 850 nm 

　　SE 800是采用快速二極管陣列探測器的高性能光譜橢偏儀，在紫外/可見光范圍內(nèi)兼具快速數(shù)據(jù)采集速度和全光譜范圍分辨率。 

　　光譜橢偏儀SE 800適用于復(fù)雜應(yīng)用，比如測量玻璃上的透明薄膜，發(fā)光體和半導(dǎo)體聚合物薄膜，吸收/透明基底上的多層膜，窗材料的減反射膜，先進(jìn)的微電子應(yīng)用比如SOI，高k值和低k值材料。各向異性樣品和非均勻樣品也能夠被分析。 

光譜橢偏儀 SE 800 特征 
　　?步進(jìn)掃描分析器工作方式，對較低光強(qiáng)也同樣有效 
　　?消色差補(bǔ)償器在整個(gè)0-360度范圍內(nèi)都可極準(zhǔn)確和精確地測量出橢偏角度。能夠分析偏振因數(shù)和補(bǔ)償退偏效應(yīng) 
　　?起偏器跟蹤技術(shù)可以為每一種應(yīng)用都提供最高的測量精度 
　　?自動(dòng)對準(zhǔn)鏡用于樣品傾斜度調(diào)節(jié)，顯微鏡用于樣品高度調(diào)節(jié)，能夠提供最高的樣品對準(zhǔn)精度 
　　?高穩(wěn)定性的操作，所有硬件操作由其內(nèi)置的微控制器分別控制，基于Windows XP系統(tǒng)的最新型電腦 
　　?SpectraRay II - 功能強(qiáng)大的光譜橢偏儀軟件 

主要應(yīng)用 
　　?測量單層膜或多層膜的厚度和折射率 
　　?在紫外-可見光波段測量材料的光學(xué)性質(zhì) 
　　?測量厚度梯度 
　　?測量膜表面和界面間的粗糙程度 
　　?確定材料成分 
　　?分析薄金屬膜 
　　?分析各向異性材料和薄膜 
　　?CER - 結(jié)合橢偏測量和反射測量 
　　?CET - 結(jié)合橢偏測量和透射測量 

選項(xiàng) 
　　?紫外擴(kuò)展選項(xiàng) 280 - 850 nm 
　　?計(jì)算機(jī)控制角度計(jì)，40o-90o, 可選 20o-90o ，精度0.01o 
　　?手動(dòng)x-y載物臺(tái)，150 mm行程 
　　?電機(jī)驅(qū)動(dòng)x-y載物臺(tái)，行程50 mm - 200 mm 
　　?MWAFER- SENTECH地貌圖掃描軟件 
　　?透射測量樣品夾具 
　　?攝象頭選項(xiàng)，用于樣品對準(zhǔn)和表面檢測 
　　?液體膜測量單元 
　　?反射式膜厚儀FTPadvanced, 光斑直徑80微米 
　　?微細(xì)光斑選項(xiàng)，光斑直徑200微米，可選: 100微米 
　　?自動(dòng)對焦選項(xiàng)，結(jié)合地貌圖掃描選項(xiàng) 
　　?SENTECH標(biāo)準(zhǔn)樣片 
　　?附加許可，使SpectrRay II軟件可以用于多臺(tái)電腦 

光譜橢偏儀軟件SpectraRay II 
　　基于windows系統(tǒng)的 SpectraRay II 操作軟件包括一個(gè)全面的的建模、模擬和擬合軟件包，操作向?qū)?，自?dòng)輸出結(jié)果，單鍵操作，使得軟件界面友好并且橢偏儀操作簡易。